更新時間:2026-06-02
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測量UV 照度(mW/cm2)、峰值照度、累積光量(mJ/cm2)、溫度。
適配172/254/313/365/405 nm多波段(換探頭)。
用于 UV 固化、PCB 曝光、殺菌、半導體 / 光學制程質檢。
顯示:LCD,照度 4 位、累積光量 5 位。
精度:±5%,線性度 ±1%(NIST 溯源校準)。
量程:3 檔自動 / 手動切換。
數據記錄:最長 4 分鐘照度分布記錄;0–1V 模擬輸出。
通信:RS-232C 串口,可連 PC 導出數據。
供電:3 節 AAA 電池 / 外接電源;約 250g,便攜。
探頭:可換(UVD-S/C 系列),支持 5 波長。
UVD-C254:254 nm(UVC,殺菌)
UVD-C365:365 nm(UVA,固化)
UVD-C405:405 nm(UV-LED)
UVD-S172/313:真空紫外 / UVB 專用
開機選探頭與波長,自動歸零后測量。
可測實時 / 峰值照度、累積光量、溫度。
建議每 6 個月校準一次,確保精度。
UIT-250:標準型,電池供電,基礎記錄與串口。
UIT-250A:增強型,支持外接電源與更長電纜。
版權所有:玉崎科學儀器(深圳)有限公司
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